Nach positiver Absolvierung der Lehrveranstaltung sind Studierende in der Lage:

• die relevanten physikalischen Prinzipien für Messungen auf der Nanometer-Skala zu erläutern.
• die wichtigsten Methoden der Rastersonden-Mikroskopie einander gegenüberzustellen und die geeignetste Methode für eine konkrete Messaufgabe auszuwählen.
• die Funktionsweise eines Rasterkraft-Mikroskops und dessen Komponenten zu erklären.
• ein Rasterkraft-Mikroskop im Labor zu bedienen.
• Proben zu präparieren und deren Oberfläche mittels Rasterkraft-Mikroskopie zu analysieren.
• wissenschaftliche Literatur aus dem Bereich Rastersonden-Mikroskopie zu präsentieren.

Grundlagen und physikalische Prinzipien auf der Nanometer-Skala, Kräfte, Limitierungen, Skalierungseffekte, hochauflösende Abbildungssysteme, Elektronenmikroskopie (SEM, TEM), Rastertunnelmikrokopie (STM), Rasterkraftmikroskopie (AFM) und verwandte Methoden (MFM, KFM), Kraftmessungen, Einzelmolekuelspektroskopie, Dynamik eines AFMs und Hochgeschwindigkeits-AFM, Bildverarbeitung, nanomechanische Charakterisierung, Nano-Indentation, Nano-Lithographie, Partikelmanipulation, Nano-Robotik, Wissenschaftliche Instrumentierung, physikalische Sensor- und Aktuationsprinzipien.

Vorlesung, Laborübung

Diese Lehrveranstaltung ist Teil des Curriculums Masterstudium Energie- und Automatisierungstechnik und wird im Zuge des Wahlmoduls Precision Engineering angeboten. Um das Modul abzuschließen, ist zusätzlich der Besuch der Lehrveranstaltung 376.052 Optische Messtechnik notwendig.

1. Mündl. Prüfung 2-3 Wochen nach der Lehrveranstaltung (Termin siehe unter Prüfung): 50%
2. Seminarvortrag: 25%
3. Labor-Kurzbericht: 25%

Anwesenheitspflicht während Vorlesung und Laborübung (in Präsenz)!

Aufgrund des Infektionsgeschehens kann es notwendig sein, das Format der Veranstaltung kurzfristig anzupassen.