164.182 Oberflächen- und Grenzflächenanalytik
Diese Lehrveranstaltung ist in allen zugeordneten Curricula Teil der STEOP.
Diese Lehrveranstaltung ist in mindestens einem zugeordneten Curriculum Teil der STEOP.

2019W, VO, 2.0h, 3.0EC

Merkmale

  • Semesterwochenstunden: 2.0
  • ECTS: 3.0
  • Typ: VO Vorlesung

Lernergebnisse

Nach positiver Absolvierung der Lehrveranstaltung sind Studierende in der Lage die Grundprinzipien, den Aufbau und die Anwendungen der wichtigsten oberflächenanalytischen Methoden zu erklären, sowie deren Stärken und Schwächen zu beurteilen. Diese Methoden sind:

  • Photonensondentechniken: Schwingungsspektroskopie, Röntgenabsorptionsspektrometrie, Photoelektronenspektroskopie
  • Elektronensondentechniken: Analytische Elektronenmikroskopie, Elektronenbeugung, Elektronenenergieverlustspektroskopie, Rasterelektronenmikroskopie, Elektronenstrahlmikroanalyse, Augerelektronenspektroskopie
  • Ionensondentechniken: Streumethoden, Elastic Recoil Detection, Sputtermethoden, Sekundärneutralteilchen-Massenspektrometrie, aktivierungsanalytische Methoden
  • Feldsondentechniken: Feldionenmikroskopie, Atomsonde
  • Nahfeld-Rastersondentechniken: AFM, STM, SNOM

Inhalt der Lehrveranstaltung

Überblick über die wichtigsten Methoden:

  • Photonensondentechniken:
    • Oberflächenanalytische Aspekte der Schwinungsspektroskopie (RAMAN (SERS)
    • IR (Reflexions- Absorptionstechnik), Röntgenabsorptionsspektrometrie (EXAFS, NEXAFS)
    • Photoelektronenspektroskopie (XPS, UPS)
  • Elektronensondentechniken:
    • Analytische Elektronenmikroskopie (TEM, THEED, TEELS)
    • Elektronenbeugung (LEED, RHEED)
    • Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS, REELS)
    • Rasterelektronenmikroskopie
    • Elektronenstrahlmikroanalyse (EPXMA/SEM)
    • Augerelektronenspektroskopie (AES)
  • Ionensondentechniken:
    • Streumethoden (RBS, ISS)
    • Elastic Recoil Detection (ERD)
    • Sputtermethoden (Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS))
    • Sekundärneutralteilchen-Massenspektrometrie (SNMS)
    • aktivierungsanalytische Methoden (CPAA)
  • Feldsondentechniken:
    • Feldionenmikroskopie
    • Atomsonde
  • Nahfeld-Rastersondentechniken:
    • AFM
    • STM
    • SNOM

Physikalische Grundlagen, Gerätetechnik, Datenauswertung (Quantifizierung) und Analytische Charakteristika (Möglichkeiten und Limitierungen). Exemplarische Besprechung der Anwendungsmöglichkeiten mit Vor- und Nachteilen der verschiedenen Methoden.

Methoden

Vorlesung und Diskussion unterstützt durch Powerpoint Präsentation

Prüfungsmodus

Mündlich

Vortragende Personen

Institut

LVA Termine

TagZeitDatumOrtBeschreibung
Mi.08:00 - 10:0002.10.2019 - 22.01.2020Seminarraum BA 02A 164.182 Friedbacher
Oberflächen- und Grenzflächenanalytik - Einzeltermine
TagDatumZeitOrtBeschreibung
Mi.02.10.201908:00 - 10:00Seminarraum BA 02A 164.182 Friedbacher
Mi.09.10.201908:00 - 10:00Seminarraum BA 02A 164.182 Friedbacher
Mi.16.10.201908:00 - 10:00Seminarraum BA 02A 164.182 Friedbacher
Mi.23.10.201908:00 - 10:00Seminarraum BA 02A 164.182 Friedbacher
Mi.30.10.201908:00 - 10:00Seminarraum BA 02A 164.182 Friedbacher
Mi.06.11.201908:00 - 10:00Seminarraum BA 02A 164.182 Friedbacher
Mi.13.11.201908:00 - 10:00Seminarraum BA 02A 164.182 Friedbacher
Mi.20.11.201908:00 - 10:00Seminarraum BA 02A 164.182 Friedbacher
Mi.27.11.201908:00 - 10:00Seminarraum BA 02A 164.182 Friedbacher
Mi.04.12.201908:00 - 10:00Seminarraum BA 02A 164.182 Friedbacher
Mi.11.12.201908:00 - 10:00Seminarraum BA 02A 164.182 Friedbacher
Mi.18.12.201908:00 - 10:00Seminarraum BA 02A 164.182 Friedbacher
Mi.08.01.202008:00 - 10:00Seminarraum BA 02A 164.182 Friedbacher
Mi.15.01.202008:00 - 10:00Seminarraum BA 02A 164.182 Friedbacher
Mi.22.01.202008:00 - 10:00Seminarraum BA 02A 164.182 Friedbacher

Leistungsnachweis

Eine mündliche Prüfung über die Vorlesungsinhalte. Die Prüfung dauert ca. 30 Minuten und die Note ergibt sich basierend darauf, wie vollständig die Studierenden die vermittelten Lehrveranstaltungsinhalte erklären und damit die gestellten Fragen beantworten können.

 

LVA-Anmeldung

Von Bis Abmeldung bis
15.10.2019 00:00 16.10.2022 00:00

Curricula

StudienkennzahlVerbindlichkeitSemesterAnm.Bed.Info
066 434 Materialwissenschaften Keine Angabe
066 490 Technische Chemie Gebundenes Wahlfach
066 490 Technische Chemie Keine Angabe
066 492 Werkstofftechnologie u. -analytik Pflichtfach
066 493 Technische Chemie - Materialchemie Pflichtfach

Literatur

Es wird kein Skriptum zur Lehrveranstaltung angeboten.

Sprache

Deutsch