Arbeitsweise des Transmissionselektronenmikroskopes (TEM)
Praktische Arbeit am Mikroskop
Setup und Alignment des analytischen TEMs
- Alignment der strahlformenden Linsen
- Alignment der bildformenden Linsen
- Korrektur der Linsenfehler Anwendung der grundlegenden TEM-Techniken
- Hellfeldabbildung (MAG, SAMAG)
- Dunkelfeldabbildung
- Elektronenbeugung
- Verwendung des Kamerasystem (CCD/Plattenkamera)
Analytik am TEM
- Energieverlustspektrometrie (EELS)
- Energiedispersive Röntgenmikroanalyse (EDS)
- Image Filter (GIF)
- Rastertransmissionselektronenmikroskopie (STEM)
- Bright Field, Dark Field und High Angle Annular Dark Field (DF, BF, HAADF)
Interaktiver Kurs
ACHTUNG: man befindet sich 4h täglich im selben Raum, daher besteht erhöhtes Infektrionsrisiko. Um dieses zu minimieren ist FFP2-Maskenpflicht unerlässlich.
Anmeldung ausschließlich über die Gruppenanmeldung.
Priorität haben jene Studierende, die Transmissionselektronenmikroskopie unmittelbar für ihre Forschung benötigen und selbständig anwenden werden.
Es besteht leider keine Garantie auf einen Praktikumsplatz.
Bitte nehmen Sie daher bei Interesse bis 26.9. Kontakt mit einem der Vortragenden auf, um die weitere Planung durchzuführen.
Geplante Termine WS 2022/23:
Die Arbeiten am TEM finden im TEM Labor im Freihaus (8.Stock, gelber Turm) statt.
Dauer: üblicherweise 09:00 bis 13:00
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Theorieblock für alle Gruppen
Fr 7.10.2022
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Gruppe 1 (Englisch):
Montag 10.Okt. 13:00-17:00 (!)
Dienstag 11.Okt.
Mittwoch 12.Okt.
Donnerstag 13.Okt.
Freitag 14.Okt.
Montag 24.Okt.
Dienstag 25.Okt.
Donnerstag 27.Okt.
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Gruppe 2:
Montag 07.Nov. 13:00-17:00 (!)
Dienstag 08.Nov.
Mittwoch 09.Nov.
Donnerstag 10.Nov.
Montag 14.Nov.
Mittwoch 16.Nov.
Donnerstag 17.Nov.
Freitag 18.Nov.
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Gruppe 3:
Montag 21.Nov.
Dienstag 22.Nov.
Mittwoch 23.Nov.
Freitag 25.Nov.
Montag 28.Nov.
Dienstag 29.Nov.
Mittwoch 30.Nov.
Donnerstag 01.Dez.
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Aufgrund der aktuellen Situation kann das Praktikum nur auf Sicherheit bedachter Weise durchgeführt werden. Es besteht FFP2-Maskenpflicht.
Priorität haben jene Studierende, die Transmissionselektronenmikroskopie unmittelbar für ihre Forschung benötigen und selbständig anwenden werden.
Es besteht leider keine Garantie auf einen Praktikumsplatz.
Bitte nehmen Sie zwecks Anmeldung Kontakt mit einem der Vortragenden auf, um die weitere Planung durchzuführen.
Ein Skriptum zur Lehrveranstaltung ist erhältlich.
Transmission electron microscopy - Williams, David B. and Carter, C.Barry (empfehlenswert) (1996,2009)
Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation - Reimer, Ludwig und Kohl, Helmut (2008) (empfehlenswert)
Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie - Alexander, Helmut (1997)
Physical principles of electron microscopy - Egerton, Ray F. (2005)
Einführung in die Elektronenmikroskopie - Heimendahl, Manfred von (1984)
Electron microscopy of materials - Heimendahl, Manfred von (1980)
Electron microscopy of thin crystals - Hirsch, P. B. (1977)
High-resolution electron microscopy - Spence, John C. H. (2008)
Transmission electron microscopy of materials - Thomas, Gareth (1990) Elektronenmikroskopische Untersuchungs- und Präparationsmethoden - Reimer, Ludwig (1984)
Fundamentals of inelastic electron scattering - Schattschneider, Peter (1986)
