138.049 Elektronenmikroskopie
Diese Lehrveranstaltung ist in allen zugeordneten Curricula Teil der STEOP.
Diese Lehrveranstaltung ist in mindestens einem zugeordneten Curriculum Teil der STEOP.

2020W, PR, 4.0h, 5.0EC, wird geblockt abgehalten
TUWEL

Merkmale

  • Semesterwochenstunden: 4.0
  • ECTS: 5.0
  • Typ: PR Projekt
  • Format der Abhaltung: Hybrid

Lernergebnisse

Nach positiver Absolvierung der Lehrveranstaltung sind Studierende in der Lage die in der Lehrveranstaltung angebotenen Lehrinhalte zu erfassen und selbstständig zu interpretieren sowie sämtliche Lehrinhalte auch aktiv weiterzugeben.

Inhalt der Lehrveranstaltung

Arbeitsweise des Transmissionselektronenmikroskopes (TEM)
Praktische Arbeit am Mikroskop
Setup und Alignment des analytischen TEMs
- Alignment der strahlformenden Linsen
- Alignment der bildformenden Linsen
- Korrektur der Linsenfehler Anwendung der grundlegenden TEM-Techniken
- Hellfeldabbildung (MAG, SAMAG)
- Dunkelfeldabbildung
- Elektronenbeugung
- Verwendung des Kamerasystem (CCD/Plattenkamera)

Analytik am TEM
- Energieverlustspektrometrie (EELS)
- Energiedispersive Röntgenmikroanalyse (EDS)
- Image Filter (GIF)
- Rastertransmissionselektronenmikroskopie (STEM)
- Bright Field, Dark Field und High Angle Annular Dark Field (DF, BF, HAADF)

Methoden

Interaktiver Kurs

Prüfungsmodus

Schriftlich und Mündlich

Weitere Informationen

Vorbesprechung: Mo, 5. Oktober 2020, 12:00-13:00 Uhr, via GoToMeeting:

https://global.gotomeeting.com/join/391147653

tel:+43720815427
Access Code: 391-147-653

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Aufgrund der aktuellen Situation kann das Praktikum im WS2020/21 leider nur in sehr eingeschränkter und auf Sicherheit bedachter Weise in Kleinstgruppen durchgeführt werden.

Priorität haben jene Studierende, die Transmissionselektronenmikroskopie unmittelbar für ihre Forschung benötigen und selbständig anwenden werden.

Es besteht leider keine Garantie auf einen Praktikumsplatz.
Bitte nehmen Sie daher bei Interesse Kontakt mit einem der Vortragenden auf, um die weitere Planung durchzuführen.

Vortragende Personen

Institut

Leistungsnachweis

Zeugnis

LVA-Anmeldung

Von Bis Abmeldung bis
19.08.2020 00:00 08.10.2020 12:00 06.10.2020 12:00

Anmeldemodalitäten

Aufgrund der aktuellen Situation kann das Praktikum im WS2020/21 leider nur in sehr eingeschränkter und auf Sicherheit bedachter Weise in Kleinstgruppen durchgeführt werden.

Priorität haben jene Studierende, die Transmissionselektronenmikroskopie unmittelbar für ihre Forschung benötigen und selbständig anwenden werden.

Es besteht leider keine Garantie auf einen Praktikumsplatz.
Bitte nehmen Sie zwecks Anmeldung Kontakt mit einem der Vortragenden auf, um die weitere Planung durchzuführen.

 

 

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Curricula

StudienkennzahlVerbindlichkeitSemesterAnm.Bed.Info
066 434 Materialwissenschaften Keine Angabe

Literatur

Ein Skriptum zur Lehrveranstaltung ist erhältlich.

Transmission electron microscopy - Williams, David B. and Carter, C.Barry (empfehlenswert) (1996,2009)

Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation - Reimer, Ludwig und Kohl, Helmut (2008) (empfehlenswert)

Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie - Alexander, Helmut (1997)
Physical principles of electron microscopy - Egerton, Ray F. (2005)
Einführung in die Elektronenmikroskopie - Heimendahl, Manfred von (1984)
Electron microscopy of materials - Heimendahl, Manfred von (1980)
Electron microscopy of thin crystals - Hirsch, P. B. (1977)
High-resolution electron microscopy - Spence, John C. H. (2008)
Transmission electron microscopy of materials - Thomas, Gareth (1990) Elektronenmikroskopische Untersuchungs- und Präparationsmethoden - Reimer, Ludwig (1984)
Fundamentals of inelastic electron scattering - Schattschneider, Peter (1986)

Begleitende Lehrveranstaltungen

Vertiefende Lehrveranstaltungen

Weitere Informationen

  • Anwesenheitspflicht!

Sprache

bei Bedarf in Englisch