Arbeitsweise des Transmissionselektronenmikroskopes (TEM)
Praktische Arbeit am Mikroskop
Setup und Alignment des analytischen TEMs
- Alignment der strahlformenden Linsen
- Alignment der bildformenden Linsen
- Korrektur der Linsenfehler Anwendung der grundlegenden TEM-Techniken
- Hellfeldabbildung (MAG, SAMAG)
- Dunkelfeldabbildung
- Elektronenbeugung
- Verwendung des Kamerasystem (CCD/Plattenkamera)
Analytik am TEM
- Energieverlustspektrometrie (EELS)
- Energiedispersive Röntgenmikroanalyse (EDS)
- Image Filter (GIF)
- Rastertransmissionselektronenmikroskopie (STEM)
- Bright Field, Dark Field und High Angle Annular Dark Field (DF, BF, HAADF)
Vorbesprechung: Mo, 5. Oktober 2020, 12:00-13:00 Uhr, via GoToMeeting:
https://global.gotomeeting.com/join/391147653
tel:+43720815427
Access Code: 391-147-653
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Aufgrund der aktuellen Situation kann das Praktikum im WS2020/21 leider nur in sehr eingeschränkter und auf Sicherheit bedachter Weise in Kleinstgruppen durchgeführt werden.
Priorität haben jene Studierende, die Transmissionselektronenmikroskopie unmittelbar für ihre Forschung benötigen und selbständig anwenden werden.
Es besteht leider keine Garantie auf einen Praktikumsplatz.
Bitte nehmen Sie daher bei Interesse Kontakt mit einem der Vortragenden auf, um die weitere Planung durchzuführen.
Aufgrund der aktuellen Situation kann das Praktikum im WS2020/21 leider nur in sehr eingeschränkter und auf Sicherheit bedachter Weise in Kleinstgruppen durchgeführt werden.
Priorität haben jene Studierende, die Transmissionselektronenmikroskopie unmittelbar für ihre Forschung benötigen und selbständig anwenden werden.
Es besteht leider keine Garantie auf einen Praktikumsplatz.
Bitte nehmen Sie zwecks Anmeldung Kontakt mit einem der Vortragenden auf, um die weitere Planung durchzuführen.
Ein Skriptum zur Lehrveranstaltung ist erhältlich.
Transmission electron microscopy - Williams, David B. and Carter, C.Barry (empfehlenswert) (1996,2009)
Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation - Reimer, Ludwig und Kohl, Helmut (2008) (empfehlenswert)
Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie - Alexander, Helmut (1997)
Physical principles of electron microscopy - Egerton, Ray F. (2005)
Einführung in die Elektronenmikroskopie - Heimendahl, Manfred von (1984)
Electron microscopy of materials - Heimendahl, Manfred von (1980)
Electron microscopy of thin crystals - Hirsch, P. B. (1977)
High-resolution electron microscopy - Spence, John C. H. (2008)
Transmission electron microscopy of materials - Thomas, Gareth (1990) Elektronenmikroskopische Untersuchungs- und Präparationsmethoden - Reimer, Ludwig (1984)
Fundamentals of inelastic electron scattering - Schattschneider, Peter (1986)