Arbeitsweise des Transmissionselektronenmikroskopes (TEM)
Praktische Arbeit am Mikroskop
Setup und Alignment des analytischen TEMs
- Alignment der strahlformenden Linsen
- Alignment der bildformenden Linsen
- Korrektur der Linsenfehler Anwendung der grundlegenden TEM-Techniken
- Hellfeldabbildung (MAG, SAMAG)
- Dunkelfeldabbildung
- Elektronenbeugung
- Verwendung des Kamerasystem (CCD/Plattenkamera)
Analytik am TEM
- Energieverlustspektrometrie (EELS)
- Energiedispersive Röntgenmikroanalyse (EDS)
- Image Filter (GIF)
- Rastertransmissionselektronenmikroskopie (STEM)
- Bright Field, Dark Field und High Angle Annular Dark Field (DF, BF, HAADF)
Geplante Termine SS 2020:
Es sind wieder drei Gruppen geplant, mit jeweils maximal 5 TeilnehmerInnen.
Bitte rechtzeitig anmelden! (unbedingt Gruppenanmeldung durchführen!)
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Verpflichtender einführender Theorieblock (für alle Gruppen gemeinsam)
Fr 6. März 2020 12:00 - 14:00 SEM DB07 gelb
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Die Arbeiten am TEM finden im TEM Labor im Freihaus (8.Stock, gelber Turm) statt.
Dauer jeweils 09:00 bis 13:00 (außer anders angegeben)
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Gruppe 2:
Mo 23.03.; Di 24.03.; Mi 25.03.; Do 26.03.
Mo 30.03.; Di 31.03.; Mi 01.04.; Do 02.04.
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Gruppe 3:
Mo 04.05.; Di 05.05.; Mi 06.05.; Do 07.05.
Mi 11.05.; Do 12.05.; Fr 13.05.; Mo 14.05.
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Ein Skriptum zur Lehrveranstaltung ist erhältlich.
Transmission electron microscopy - Williams, David B. and Carter, C.Barry (empfehlenswert) (1996,2009)
Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation - Reimer, Ludwig und Kohl, Helmut (empfehlenswert)(2008)
Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie - Alexander, Helmut (1997)
Physical principles of electron microscopy - Egerton, Ray F. (2005)
Elektronenmikroskopische Untersuchungs- und Präparationsmethoden - Reimer, Ludwig (1984)
Fundamentals of inelastic electron scattering - Schattschneider, Peter (1986)