Nach positiver Absolvierung der Lehrveranstaltung sind Studierende in der Lage die in der Lehrveranstaltung angebotenen Lehrinhalte zu erfassen und selbstständig zu interpretieren sowie sämtliche Lehrinhalte auch aktiv weiterzugeben.

Arbeitsweise des Transmissionselektronenmikroskopes (TEM)
Praktische Arbeit am Mikroskop
Setup und Alignment des analytischen TEMs
- Alignment der strahlformenden Linsen
- Alignment der bildformenden Linsen
- Korrektur der Linsenfehler

Anwendung der grundlegenden TEM-Techniken
- Hellfeldabbildung (MAG, SAMAG)
- Dunkelfeldabbildung
- Elektronenbeugung
- Verwendung des Kamerasystems

Analytik am TEM
- Energieverlustspektrometrie (EELS)
- Energiedispersive Röntgenmikroanalyse (EDS)
- Image Filter (GIF)
- Rastertransmissionselektronenmikroskopie (STEM)
- Bright Field, Dark Field und High Angle Annular Dark Field (DF, BF, HAADF)

Interaktiver Kurs

Geplante Termine SS 2024:

Es sind wieder drei Gruppen geplant. Bitte rechtzeitig anmelden!

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Verpflichtender einführender Theorieblock (für alle Gruppen gemeinsam)
Fr 08.03.2024

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Die Arbeiten am TEM finden im TEM Labor im Freihaus (8.Stock, gelber Turm) statt.
Dauer jeweils 09:00 bis 13:00 (außer wenn anders angegeben)
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Gruppe 1 (Englisch):
Mo 11.03.(13:00) Di 12.03.  Mi 13.03.  Do 14.03.
Mo 18.03.        Di 19.03.  Mi 20.03.  Fr 22.3.

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Gruppe 2:
Mo 08.04.(13:00) Di 09.04.  Mi 10.04.  Do 11.04.
Mo 15.04.        Di 16.04.  Mi 17.04.  Do 18.04.

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Gruppe 3:
Mo 22.04.        Di 23.04.  Mi 24.04.  Do 25.04.
Mo 29.04.        Di 30.04.  Do 02.05.  Fr 03.05. oder Mo 6.5.
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Zeugnis

Bitte verwenden Sie ausschließlich die Gruppenanmeldung!

Priorität haben jene Studierende, die Transmissionselektronenmikroskopie unmittelbar für ihre Forschung benötigen und selbständig anwenden werden.

Es besteht leider keine Garantie auf einen Praktikumsplatz.

Ein Skriptum zur Lehrveranstaltung ist erhältlich.
Transmission electron microscopy - Williams, David B. and Carter, C.Barry (empfehlenswert) (1996,2009)
Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation - Reimer, Ludwig und Kohl, Helmut (empfehlenswert)(2008) 

Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie - Alexander, Helmut (1997)
Physical principles of electron microscopy - Egerton, Ray F. (2005)
Elektronenmikroskopische Untersuchungs- und Präparationsmethoden - Reimer, Ludwig (1984)
Fundamentals of inelastic electron scattering - Schattschneider, Peter (1986)