Nach positiver Absolvierung der Lehrveranstaltung sind Studierende in der Lage die Präparation und Charakterisierung von Festkörperoberflächen mit Methoden der Oberflächenphysik so wie die Funktion der Instrumente der Oberflächenspektroskopie und -analytik zu verstehen, sowie verschiedene Methoden zur Analyse der chemischen Zusammensetzung, geometrischen und elektronische Struktur zu erklären.

Präparation und Charakterisierung von Festkörperoberflächen, Instrumente der Oberflächenspektroskopie und Analytik. Methoden der chemischen Analyse (XPS, AES, SIMS, ISS, TDS), Bestimmung der geometrischen Struktur (STM/AFM, FIM, LEED) und der Elektronenstruktur (UPS,IPES, NEXAFS).

Präsentation der Methoden und von Fallbeispielen aus der Forschung im Rahmen der Vorlesung, Skriptum und weitere Unterlagen wie Video-Animationen der grundlegenden Physik

Die Vorlesung wird bei Bedarf in Englisch abgehalten.

Mündliche Prüfung

Bitte für den Zugang zu den Unterlagen in TISS anmelden

Ein Skriptum zur Lehrveranstaltung wird für registrierte Studierende in TISS zum Download angeboten.

2020 werden zusätzlich Präsentationen mit Audio und teils Video in TISS bereitgestellt (englisch).

Weitere Literatur:

• M. Henzler, W. Göpel: Oberflächenphysik des Festkörpers (Teubner).
• A. Zangwill: Physics of Surfaces (Cambridge University Press)
• H. Lüth: Surfaces and Interfaces of Solid Materials (Springer).
• Weitere Literatur ist im Skriptum und den ersten Vorlesungsfolien erwähnt.

Grundwissen der Festkörperphysik, Quanten- und Atomphysik.